使用工業(yè)CT檢測鑄造件時(shí)離開實(shí)際需要，片面追求個(gè)別的高指標(biāo)更為有害，典型的就是片面追求高空間分辨率?？臻g分辨率，密度分辨率和一個(gè)斷層圖像的平均產(chǎn)生時(shí)間這三項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)是互相制約的，一項(xiàng)指標(biāo)的提高可能帶來其他指標(biāo)的降低。對(duì)于空間分辨率也有一個(gè)認(rèn)識(shí)上的誤區(qū)。有人以為探測器越小空間分辨率就一定更高，探測器數(shù)量越多系統(tǒng)越先進(jìn)。這就使有些本來不適合使用面探測器，尤其是半導(dǎo)體芯片探測器的場合使用了這些探測器，不僅影響了總體性能，空間分辨率也沒有達(dá)到預(yù)想的結(jié)果?？雌饋砩厦娴恼f法似乎不合邏輯，在這里值得注意的是理論空間分辨率的極限與實(shí)際系統(tǒng)在特定條件下空間分辨率并不永遠(yuǎn)有良好的對(duì)應(yīng)關(guān)系。如前面已經(jīng)分析過的，決定系統(tǒng)理論空間分辨率的因素并不僅僅探測器寬度一項(xiàng)，還有別的因素；同時(shí)任何實(shí)際的測量都是在存在系統(tǒng)噪聲的條件下進(jìn)行的，探測器越小通常帶來的是信噪比低，可以想象淹沒在噪聲中的圖像如何分辨細(xì)節(jié)呢？這樣上面的結(jié)論在很多實(shí)際情況下就合乎邏輯了。為了幫助理解這個(gè)問題，我們還可以數(shù)碼相機(jī)為例，一般說來相機(jī)好壞主要看鏡頭質(zhì)量和芯片尺寸大小，并不簡單地是像素越多相機(jī)就越好；一般情況下在像素?cái)?shù)目相同時(shí)，芯片尺寸越大越貴，也就是單個(gè)成像單元尺寸越大越好。毫無疑問，照片的清晰度是照相機(jī)的價(jià)格和質(zhì)量的*基本因素。

    對(duì)于工業(yè)CT 設(shè)備，不可能在一次檢測中或一種工作條件下，使空間分辨率，密度分辨率和斷層圖像產(chǎn)生時(shí)間這三項(xiàng)技術(shù)指標(biāo)上同時(shí)達(dá)到該設(shè)備的*高指標(biāo)。由于工業(yè)CT 的很多技術(shù)指標(biāo)是隨測試條件變化的，設(shè)備說明書給出的技術(shù)指標(biāo)都是在特定的測試條件或買賣雙方所協(xié)商一致的條件下得到的，并不是任何條件下一成不變的。比起設(shè)備說明給出的指標(biāo)，樣品實(shí)際指標(biāo)有的會(huì)高一些，有的會(huì)低一些；甚至對(duì)于同一樣品，選用不同測試參數(shù)結(jié)果也不盡相同。例如，同一設(shè)備檢測較大的樣品得到的.技術(shù)指標(biāo)就會(huì)比檢測較小的樣品時(shí)低一些，用檢測小樣品的要求檢測大樣品是不現(xiàn)實(shí)的，這是由物理學(xué)或數(shù)學(xué)等客觀存在的自然規(guī)律所決定的。從使用的角度考慮人們更應(yīng)關(guān)心的是接近于實(shí)際使用時(shí)的技術(shù)指標(biāo)；同時(shí)也應(yīng)當(dāng)優(yōu)先接受公認(rèn)的一些標(biāo)準(zhǔn)測試條件，便于對(duì)不同設(shè)備進(jìn)行性能比較。要避免簡單地從孤立的個(gè)別數(shù)字上判斷系統(tǒng)的優(yōu)劣。總的說來，在考察生產(chǎn)廠家提供的CT 圖像時(shí)，應(yīng)當(dāng)特別注意測試設(shè)備型號(hào)和技術(shù)條件