x射線成像檢測系統(tǒng)射線透照常規(guī)工藝允許試件有一定的厚度差異，在射線底片上所能顯示的厚度范圍（符合標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的黑度上下限值范圍，如1.5~3.5），就稱為RT厚度容度。但若試件厚度差過大，就會透照質(zhì)量失效，要解決此問題，必須采用一些特殊工藝或技術(shù)措施。

試件厚度差異的大小可用試件厚度比來衡量，試件厚度比可定義為一次透照范圍內(nèi)試件的比較大厚度與比較小厚度之比，用Ks表示。當(dāng)Ks大于1.4時，可以認(rèn)為屬于大厚度比試件。實際工作中的大厚度比試件包括余高較高的薄板對接焊縫試件、小口徑管試件、角焊縫試件，以及一些形狀較復(fù)雜的機(jī)械零件。

大厚度比對射線照相質(zhì)量的不利影響主要表現(xiàn)在兩個方面：一是因試件厚度差較大導(dǎo)致底片黑度差較大，而底片黑度過低或過高都會影響射線照相靈敏度。二是因試件厚度變化導(dǎo)致散射比增大，產(chǎn)生邊蝕效應(yīng)。

對大厚度比試件透照的特殊技術(shù)措施包括適當(dāng)提高管電壓技術(shù)、雙膠片技術(shù)和補(bǔ)償技術(shù)。

【適當(dāng)提高管電壓技術(shù)】

適當(dāng)提高管電壓是透照大厚度比試件比較常采用的，也是比較簡便的方法。

隨著管電壓的提高，底片上不同部位的黑度差將減小，這樣，在規(guī)定的黑度范圍內(nèi)，可以容許更大的試件厚度變化范圍，即提高管電壓可以獲得更大的透照厚度寬容度。此外，對厚度變化的試件透照，提高管電壓可以減小散射比，降低邊蝕效應(yīng)。但是射線能量提高后，衰減系數(shù)μ減小，從未會導(dǎo)致對比度減小，這一點(diǎn)對射線照相靈敏度不利。因此，管電壓不能任意提高，究竟管電壓提高多少比較合適，這是確定具體透照工藝需要研究的問題。

【雙膠片技術(shù)】

x射線成像檢測系統(tǒng)對厚度差較大的工件，可以采用在一只暗盒里放兩張膠片同時透照的雙膠片技術(shù)。

暗盒里放置的兩張膠片一般應(yīng)選用感光度不同的兩種膠片（異速雙片法），其中感光度較大的膠片適用于透照厚度較大部位的觀察評定。另一種是在暗盒中放置感光速度相同的兩張膠片（同速雙片），管片方法是對黑度較小部位，將雙片重疊觀察評定，對黑度較大部位，用單片觀察評定。