X射線實(shí)時(shí)成像無損檢測技術(shù)適用于工業(yè)零部件探傷

           X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)是無損檢測技術(shù)中最古老的方法。但是由于它判斷直觀,能夠長期儲(chǔ)存記錄, 加上其在技術(shù)上的不斷發(fā)展, 因此仍是使用得最廣泛、 最基本的一種無損探傷方法。

           當(dāng)X射線穿透工件時(shí), 由于不同材料的穿透厚度不同, 射線能量衰減程度也不同, 因此得到的X射線強(qiáng)度分布圖就可以反映出工件內(nèi)部的缺陷。采用對X射線敏感的底片可以使X射線強(qiáng)度分布圖變成可見的。底片的感光顆粒很細(xì) , 圖象很清晰, 可清楚地分辨出較小的缺陷。但其缺點(diǎn)是底片價(jià)格昂貴 , 而且沖洗需要一定時(shí)間, 不能作實(shí)時(shí)判斷。因此出現(xiàn)了DR成像設(shè)備

         X射線實(shí)時(shí)成像技術(shù)最初僅用于對工件及材料的缺陷進(jìn)行探測。 以后在紡織、鍋爐制造、石油管道、石油平臺(tái)、 發(fā)電站的各種高壓容器的制造等行業(yè)中 , 以及設(shè)備的定期維修性檢查和故 障診斷中都得到了廣泛的應(yīng)用。