2020年工業(yè)X射線探傷機常用的探測器的選擇你知道么

    X射線探傷機中常用的探測器有兩種：線陣探測器和平面陣探測器。

X射線探傷機線陣探測器

主要優(yōu)點：閃爍體在射線方向上的深度可以不受限制，使得大多數(shù)入射的X光子被捕獲，并且檢測效率被提高。特別是在高能條件下，光子采集時間可以縮短；由于閃爍體是獨立的，并且鎢或其他重金屬間隔物也布置在閃爍體之間，所以減少了X射線干擾。

主要缺點是像素尺寸不能做得太小，其相鄰間距(間距)通常大于0.1毫米。價格也更高。

通常，陣列檢測器可以在高能、和低能下連線。

   X射線探傷機面陣探測器

相比線陣探測器，面陣探測器有較高的射線利用率，適合于DR成像，可以達到實時或準實時的動態(tài)成像；另外，面陣探測器也比較適合于三維直接成像。所有面陣探測器由于結(jié)構(gòu)上的原因，有共同的缺點，即射線探測效率低，無法限制散射和竄擾問題；動態(tài)范圍小等，高能范圍應(yīng)用效果較差。

通常4MeV以下，系統(tǒng)可以配面陣探測器；但如果在高能情況下，只檢測工件內(nèi)部結(jié)構(gòu)，不檢測缺陷時，也可以配面陣，只是圖像精度不高。